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Oberflächenchemie

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Oberflächenchemie
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Oberflächenchemie (englisch surface chemistry, surface science) ist ein Teilgebiet der Physikalischen Chemie, bei dem die chemischen und strukturellen Vorgänge untersucht werden, die sich an Grenzflächen, meist fest/gasförmig, abspielen. Dabei werden oberflächensensitive analytische Methoden angewendet, für die in den letzten Jahrzehnten mehrere Nobelpreise vergeben wurden. Da die untersuchten Strukturen im Nanometerbereich liegen, zählt man die Oberflächenchemie zu den Nanowissenschaften.

Siehe auch: Oberflächenphysik

Grundlagen

Als Oberfläche (engl.: surface) ist dabei der Bereich eines Festkörpers definiert, in dem sich die physikalischen und chemischen Eigenschaften (z. B. Struktur, elektronische Eigenschaften) vom Rest (engl.: bulk) unterscheiden, wobei die Abweichung von den Volumeneigenschaften f(x){\displaystyle f(x)} i. a. exponentiell mit der Entfernung von der Oberfläche x{\displaystyle x} abklingt (proportional zu f(x)=exp⁡(−x){\displaystyle f(x)=\exp(-x)}). Das Idealbild einer Oberfläche ist analog zum idealen Festkörper eine streng periodisch in zwei Raumrichtungen unendliche ausgedehnte Anordnung von Atomen oder Molekülen.

Bravaisgitter

Eine periodische Anordnung von Atomen oder Molekülen auf einer Oberfläche kann analog zum Festkörper in zwei Dimensionen mit einem Bravais-Gitter beschrieben werden. In zwei Dimensionen gibt es fünf Bravais-Gitter, die quadratische, die rechteckige, die rechteckig innenzentrierte, die rautenförmige und die hexagonale Struktur, wobei die hexagonalen oder rechteckig innenzentrierte Strukturen als Sonderfälle der rautenförmigen Struktur mit bestimmten Winkeln angesehen werden können.

Einheitszelle

Eine Einheitszelle spiegelt die Symmetrie des Bravais-Gitter wider, es besitzt dieselben Symmetrieelemente. Auf Grund der Periodizität des Gitters können die Einheitszellen durch einen Translationsvektor R→{\displaystyle {\vec {R}}} aufeinander abgebildet werden. Die Einheitszellen selbst werden durch linear unabhängige Einheitsvektoren a→1{\displaystyle {\vec {a}}_{1}} und a→2{\displaystyle {\vec {a}}_{2}} aufgespannt. Dabei gilt:

R→=a→1+a→2{\displaystyle {\vec {R}}={\vec {a}}_{1}+{\vec {a}}_{2}}

Man kann das Gitter auch in einen anderen Raum mit anderen Basisvektoren a→1∗{\displaystyle {\vec {a}}_{1}^{*}} und a→2∗{\displaystyle {\vec {a}}_{2}^{*}} transformieren. Arbeitet man z. B. mit Beugungsmethoden, misst man die Einheitszelle im reziproken Raum, auch k-Raum genannt.

Die Vektoren der Einheitszelle im Ortsraum können u. U. mittels Rastertunnelmikroskopie ermittelt werden. Die gemittelte Größe der Einheitszelle im reziproken Raum erhält man beispielsweise mit der Beugung langsamer Elektronen (LEED) an der Oberfläche.

Eine spezielle Art der Einheitszelle ist die Wigner-Seitz-Zelle. Ihr entspricht die Brillouin-Zone 1. Ordnung im k-Raum.

Punkte und Geraden im Gitter

Ein Punkt P(x,y,z){\displaystyle P(x,y,z)} im Gitter wird durch einen Vektor P→(x,y,z){\displaystyle {\vec {P}}(x,y,z)} vom Ursprung zum Punkt beschrieben. Eine Gerade wird mit einem Vektor beschrieben, der parallel zur Gittergeraden liegt.

Gitterebenen

Wenn ein Einkristall bricht, geschieht das häufig entlang der Gitterebene. Dadurch entstehen Oberflächen, die sich je nach 3-dimensionaler Kristallstruktur und Schnittrichtung in ihrer 2-dimensionalen Oberflächenstruktur unterscheiden. Die Schnittebenen können durch die Schnittpunkten a1,a2,a3{\displaystyle a_{1},a_{2},a_{3}} der Ebene mit den Achsen des Koordinatensystems beschrieben werden. Die gebräuchlichere Schreibweise ist allerdings die Angabe der Miller-Indizes h,k,l{\displaystyle h,k,l}, die das ganzzahlige Vielfache der reziproken Achsenabschnitte sind. z. B. (111), (110), (100)

Überstrukturen

Überstrukturen sind zusätzliche, größere Strukturen, die sich durch Umordnung oder Adsorption an der Oberfläche bilden. Sie können mit Vektoren a2{\displaystyle a_{2}} und b2{\displaystyle b_{2}} als Vielfache der Basis-Vektoren a1{\displaystyle a_{1}} und b1{\displaystyle b_{1}}, durch die woodsche Nomenklatur oder durch Matrixdarstellung beschrieben werden.

Oberflächenpräparation

Bevor eine Oberfläche im mikroskopischen Maßstab reproduzierbar analysiert werden kann, muss sie von Verunreinigungen befreit werden. Um sie vor weiterer Kontamination zu schützen, wird sie im Ultrahochvakuum (UHV) (p<10−10hPa{\displaystyle p<10^{-10}\,\mathrm {hPa} }) gehandhabt. Dadurch wird die Flächenstoßrate ni{\displaystyle n_{i}} von auftreffenden Molekülen aus der Gasphase verringert. Diese ist für ein Gasteilchen des Typs i{\displaystyle i}

ni≈2,6⋅10221mbarpMi⋅T{\displaystyle n_{i}\approx 2{,}6\cdot 10^{22}{\frac {1}{\mathrm {mbar} }}{\frac {p}{\sqrt {M_{i}\cdot T}}}}

In einer Studie mit einer auf Ag(111) adsorbierten organischen Molekülschicht konnte eine Reaktion mit Sauerstoffgas mittels Rastertunnelmikroskopie direkt im Ortsraum sichtbar gemacht werden.

Mögliche Ursachen für Oberflächenkontamination sind z. B.:

  • Adsorption von Luftmolekülen
  • Staub
  • Wanderung von Teilchen aus dem Probeninneren an die Oberfläche

Oberflächendefekte

Typische nanoskalige Defekte an Einkristalloberflächen [z. B. die Ag(111)-Oberfläche] sind Stufen, Kinken sowie aus Terrassen herausgelöste Atome. Diese können mittels Rastertunnelmikroskopie im atomaren Maßstab sichtbar gemacht werden und sind im Allgemeinen reaktiver als atomar glatte Terrassen.

Methoden zur Oberflächenreinigung

Werkstücke tragen nach der Bearbeitung (z. B. Schleifen, Drehen) im Allgemeinen Rückstände, wie Öle, Staub, Abrieb oder Schleifmittel. Diese Rückstände wirken sich meistens negativ auf die Bearbeitungsschritte aus und müssen daher entfernt werden. Typische Verfahren sind:

  • Oxidation oder Reduktion der Oberfläche: Überführen der Verunreinigungen in flüchtige Verbindungen. Oxidation kann zur chemischen Umwandlung von Adsorbaten führen, die anschließend leichter desorbiert werden. Beispielsweise kann stark an eine Oberfläche gebundenes CO zu CO2 oxidiert werden, das auf Grund seiner chemischen Struktur nur noch schwach gebunden ist.
  • Sputtern mit Argonionen: Beim Sputtern wird die Probe mit Ionen beschossen, die in einem elektrischen Feld beschleunigt werden. Allerdings bilden sich auf dem Substrat mehr oder weniger große „Krater“, die z. B. durch Heizen der Probe geglättet werden können.
  • Tempern (Heizen der Probe): Beim Heizen der Probe auf eine bestimmte Temperatur (ca. 1000 K) kann sich das thermodynamische Gleichgewicht einstellen, dabei wird die Oberfläche minimiert, was einer Absenkung der Oberflächenenergie entspricht. Dabei können sich von der Temperatur abhängige Rekonstruktionen oder Strukturen bilden. Diese können in Domänen unterschiedlicher Orientierung vorliegen. Beim Tempern kann es außerdem zu Desorption von Adsorbaten kommen.

Techniken zum Aufbringen von weiteren Schichten

Auf eine Oberfläche können weitere Schichten von Atomen oder Molekülen aufgebracht werden, um die Eigenschaften der Grenzfläche zu modifizieren. Dadurch lassen sich z. B. Halbleiterbauelemente in dreidimensionaler Form in einem integrierten Schaltkreis (IC) unterbringen, weil sie durch die Schichten getrennt werden. Ein in der Grundlagenforschung wichtiges Hilfsmittel ist die Chemisorption von Sondenmolekülen, deren Schwingungseigenschaften z. B. Informationen über die Oberfläche geben. Das Aufbringen der Schichten geschieht i. a. mit einer der folgenden Methoden der Dünnschichttechnologie:

  • Chemische Gasphasenabscheidung (CVD)
  • Plasmaunterstützte chemische Gasphasenabscheidung (PECVD)
  • Physikalische Gasphasenabscheidung (PVD)
  • Molekularstrahlepitaxie (MBE)
  • galvanotechnische Abscheidung
  • Oxidation der Oberfläche mit Sauerstoff
  • Sol-Gel-Verfahren

Beispiele für Fragestellungen

Beispiele von Fragestellungen in der Oberflächenchemie sind: die elementaren Zusammensetzungen von Oberflächen, Konzentration von Elementen im Oberflächenbereich, die Verteilung von Elementen im Tiefenprofil der Oberfläche sowie die chemische Bindung von Adsorbaten. Auch die Erforschung der Adsorptionskinetik, der und der Desorptionskinetik sowie der (elektronischen) Struktur an der Grenzfläche und der Schwingungseigenschaften sind Aufgaben der Oberflächenchemie. Des Weiteren beschäftigt sich die Oberflächenchemie mit Reaktionsmechanismen von heterogen katalysierten Reaktionen, erstellt Modelle für katalytische Reaktionen für die Entwicklung von industriellen Katalysatoren und untersucht die Diffusion von Adsorbaten auf Oberflächen (Oberflächendynamik) sowie den Oxidationszustand von Oberflächenatomen.

Oberflächenkoordinationschemie

Die Koordinationschemie an Metalloxidoberflächen hat viele Parallelen zur Komplexchemie in Lösungen. Hierbei dienen Oxidionen und insbesondere Hydroxidgruppen, die durch dissoziative Adsorption von Wassermolekülen an der Metalloxidoberfläche entstehen, als Liganden für Metallionen oder Metallionen-Komplexen aus einer angrenzenden Phase. Hierbei können Metallkomplexe durch schwache Wechselwirkungen gebunden werden (outer-sphere-Komplexe) oder die Bindung erfolgt über Austauschreaktionen von Liganden (inner-sphere-Komplexe). Beispiel für eine inner-sphere-Komplexbildung:

Metall−OH+Fe(H2O)62+⟶Metall−OFe(H2O)5++H3O+{\displaystyle \mathrm {Metall-OH+Fe(H_{2}O)_{6}^{2+}\longrightarrow Metall-OFe(H_{2}O)_{5}^{+}+H_{3}O^{+}} }

Die Herstellung von Oberflächenkomplexen ist für heterogene Katalysatoren von großer Bedeutung.

An der Oberfläche laufen insbesondere auch Säure-Base-Reaktionen ab. Die Hydroxidgruppen können entweder als Brönsted-Säure oder Brönsted–Base reagieren. Je nach Metall liegt dabei eine unterschiedliche Acidität der Brönsted-Säure vor. Solche Oberflächen spielen eine wichtige Rolle als Katalysator für säurekatalysierte Reaktionen in nichtwässrigen Lösungsmitteln und in der Gasphase. Ebenso spielen in der Katalyse Zentren an Metalloxidoberflächen eine Rolle, die als Lewis-Säuren reagieren können. Hierbei nimmt vor allem bei höheren Temperaturen die Anzahl von Metallkationen und damit die Lewis-Acidität zu.

Oberflächensensitive Methoden

Oberflächenanalytische Methoden werden in der Industrie und in der Grundlagenforschung eingesetzt.

  • Heterogene Katalyse (z. B. Haber-Bosch-Verfahren zur Herstellung von Ammoniak)
  • Halbleitertechnologie
  • Brennstoffzellenforschung
  • Abläufe an Elektroden bei elektrochemischen Reaktionen
  • Nanoelektronik, d. h. Herstellung von elektronischen Bauteilen auf Nanometerskala
  • Informationsspeicher mit hoher Speicherdichte
  • Klebstoffe
  • Beständige Beschichtungen von Oberflächen (z. B. Korrosionsschutz)
  • Medizintechnische Anwendungen
  • Materialforschung, z. B. atomare Zusammensetzung von Oberflächen-Legierungen
  • Bestimmte biologische Fragestellungen

Um die Vorgänge an Grenzflächen untersuchen zu können, müssen Methoden verwendet werden, die nur Prozesse in dem Bereich einer Probe „sehen“, der sich in seinen Eigenschaften vom restlichen Festkörper unterscheidet. Dazu werden die Wechselwirkungen von folgenden Wellen/Teilchen mit Materie genutzt:

Strahlung/Teilchen mittlere freie Weglänge im Festkörper/Gas Beispiele
Elektronen klein (Coulomb-Wechselwirkung), abhängig von kinetischer Energie, siehe Universelle Kurve
Photonen groß (keine Coulomb-Wechselwirkung) UV-Strahlung, Infrarotstrahlung, Röntgenstrahlung
neutrale thermische Atome und Moleküle keine, Umkehrpunkt vor Oberfläche Helium-Atome, Wasserstoff-Moleküle
Ionen klein (Coulomb-Wechselwirkung)
magnetische Felder groß
Wärme groß

Die mittleren freien Weglängen von geladenen Teilchen sind auf Grund von Coulomb-Wechselwirkungen i. a. viel kleiner als die von neutralen. Ein weiterer starker Einfluss ist die kinetische Energie der Teilchen; in bestimmten Energiebereichen können Prozesse angeregt werden, was die mittlere freie Weglänge verringert. Entscheidend für die Oberflächensensitivität einer Methode ist, dass entweder das mit der Probe wechselwirkende oder das detektierte Teilchen oder Welle eine geringe mittlere freie Weglänge in der Materie besitzt. Deshalb ist auch für viele Methoden ein Ultrahochvakuum nötig. Die gewählte Methode hängt dabei von der Fragestellung ab. Die folgende Übersicht soll nur einen Überblick geben. Für mehrere Methoden existieren auch verschiedene ortsauflösende Techniken. Für weitere Beschreibung siehe deren Artikel. Jede der Methoden hat Vor- und Nachteile, die beim Experiment berücksichtigt werden müssen.

Mikroskopie

Rastersondenmikroskopie
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Rastertunnelmikroskop (STM) Elektronische Zustandsdichte (LDOS) und Topographie an der Oberfläche im Ortsraum, Überstrukturen Elektronen Tunnelstrom/z-Position der Spitze Tunneleffekt
Rasterkraftmikroskop (AFM) Topographie an der Oberfläche im Ortsraum Schwingende Spitze (Cantilever) Ablenkung eines Laserstrahls (Frequenz-, Phasen- und Amplitudenänderung) Kraft zwischen AFM-Cantilever und Oberfläche (Pauli-Repulsion, Van-der-Waals-Wechselwirkung)
Nahfeldmikroskopie (SNOM)
Chemisches Kraftmikroskop (CFM)
Magnetkraftmikroskop (MFM)
Elektronenmikroskopie
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Transmissions-Elektronen-Mikroskopie (TEM) Oberflächenstruktur im Ortsraum, Gleitebenen von Kristalliten auf der Oberfläche Elektronen Elektronen Transmission von Elektronen durch eine dünne Probe
Raster-Elektronen-Mikroskopie (SEM) Oberflächenstruktur im Ortsraum, Gleitebenen von Kristalliten auf der Oberfläche Elektronen Elektronen Abrastern der Probe mit Elektronenstrahl
Raster-Transmissions-Elektronen-Mikroskopie (STEM) Oberflächenstruktur im Ortsraum, Gleitebenen von Kristalliten auf der Oberfläche Elektronen Elektronen Kombination aus TEM und SEM
Photoemissions-Elektronenmikroskopie (PEEM) Magnetische Domänenstruktur im Ortsraum Zirkular polarisierte Röntgenphotonen Photoelektronen Photoelektrischer Effekt, vergrößerte Darstellung der emittierten Photoelektronen auf einem Leuchtschirm
Feldinduzierte Mikroskopie
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Feldemissionsmikroskopie (FEM) Abbildung der Struktur von Spitzen, keine atomare Auflösung elektrisches Feld ionisiert Spitzenatome emittierte Elektronen aus der Spitze auf Fluoreszenzschirm Ionisation, Tunneleffekt
Feldionenmikroskopie (FIM) Abbildung der Struktur von Spitzen, atomare Auflösung elektrisches Feld, Bildgas mit Fluoreszenzschirm Ionisation des Bildgases, Tunneleffekt
/Feldverdampfung Abbildung der Struktur von Spitzen elektrisches Feld Adatome/Spitzenatome Desorption von Adatomen der Spitze/Verdampfung von Spitzenmaterial
Zusammensetzung von Spitzen elektrisches Feld, Molare Masse von Spitzenatomen durch Time-of-flight-Massenspektrometer (TOF) Desorption von Atomen der Spitze, Unterschiedliche Flugzeit bei unterschiedlichen Massen im TOF

Spektroskopie

Bei der Spektroskopie handelt es sich allgemein um ein Verfahren bei dem ein Spektrum erzeugt wird, d. h., eine Intensität wird gegen eine der Energie äquivalenten Größe aufgetragen, z. B. Frequenz. Bei der Elektronenspektroskopie ist die Energie von Elektronen, diejenige Größe, die gegen die Intensität aufgetragen wird. Es gibt folgende Methoden:

Elektronenspektroskopie
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie (XPS) Oxidationszustand und Konzentration von Elementen im Oberflächenbereich Röntgen-Photonen Photo-Elektronen Photoelektrischer Effekt
Auger-Elektronen-Spektroskopie (AES) Oxidationszustand und Konzentration von Elementen im Oberflächenbereich Röntgen-Photonen oder Elektronen Auger-Elektronen Auger-Effekt
Ultraviolett-Photoelektronen-Spektroskopie (UPS) Elektronische Struktur Photonen im UV-Bereich Photo-Elektronen Photoelektrischer Effekt
Metastabilen-Einschlag-Elektronenspektroskopie (MIES) Elektronische Struktur Metastabile Heliumatome Auger-Elektronen Abregung der metastabilen Atome an der Oberfläche; Auger-Effekt
Schwingungs-Spektroskopie
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Infrarotspektroskopie (IR) Spektrum, Schwingungsmoden von Adsorbaten (oft Kohlenmonoxid als Sonde) Infrarot-Photonen Infrarot-Photonen Schwingungsanregung von IR-aktiven Banden
Ramanspektroskopie Spektrum, Schwingungsmoden von Adsorbaten VIS-, NIR-Laser Rayleigh/Raman-Streuung (VIS, NIR) Schwingungsanregung von raman-aktiven Banden
Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS) Spektrum Elektronen Elektronen Anregung von Prozessen im Festkörper: Phononenanregung, Plasmonenanregung, Ionisation
Ionen-Spektroskopie
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Ionen-Streu-Spektroskopie (ISS=LEIS) Molare Masse der Oberflächenatome auf der äußersten Lage (qualitativ) niederenergetische Ionen (oft positive Edelgas- oder Alkalimetallionen) gestreute Ionen mit einem Massenspektrometer Elastische Streuung von Ionen an der Oberfläche, Energie- und Impulserhaltung
Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie (SIMS) Molare Masse der Atome im Tiefenprofil der Oberfläche (quantitativ) Ionen (oft positive Edelgas- oder Metallionen) Cluster und Fragmente der Oberfläche, gestreute Ionen mit einem Massenspektrometer Sputtern der Oberfläche
Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) Zusammensetzung der Oberfläche hochenergetische Helium-Ionen
Nukleare Reaktions-Analyse (NRA) Zusammensetzung der Oberfläche hochenergetische Ionen oder Neutronen Zerfallsprodukte von Kernreaktionen Kernreaktionen
Sekundär-Neutralteilchen-Massenspektrometrie (SNMS)
Röntgen-Absorptions-Spektroskopie (XAS)
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
(Surface) Extended X-Ray absorption Fine Structure ((S)EXAFS=XANES) Informationen über Nahordnung, Bindungslängen, Koordinationszahl durchstimmbere Röntgen-Photonen (Synchrotronstrahlung) Röntgen-Photonen Interferenz von ursprünglichen Photoelektronen und an Nachbaratomen gestreuten Photoelektronen führen zu anderer Wahrscheinlichkeit für Photoelektrischen Effekt
X-Ray Absorption near edge Structure (XANES=NEXAFS) Informationen über Nahordnung, Elektronische Struktur, Oxidationszustand durchstimmbere Röntgen-Photonen (Synchrotronstrahlung) Röntgen-Photonen wie EXAFS aber genauere Auflösung der in Absortionskantennähe
Mößbauerspektroskopie Zusammensetzung, Strukturinformationen, Oxidationszustände, Partikelgröße Gammastrahlung (meist aus 57Co{\displaystyle {}^{57}\mathrm {Co} }) Gammastrahlung Mössbauereffekt, Dopplereffekt
Weitere Spektroskopiearten
Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Raster-Tunnel-Spektroskopie (STS) Zustandsdichte der Oberflächenregion im Ortsraum Elektronen, Variation von Ort und Tunnelspannung Tunnelstrom Tunneleffekt

Beugung

Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Beugung niederenergetischer Elektronen (LEED) Oberflächenstruktur im reziproken Raum, Überstrukturen, 2D-Fernordnung muss vorhanden sein niederenergetische Elektronen gebeugte Elektronen Beugung
Röntgenbeugung (XRD) Gitterstruktur des gesamten Festkörpers im reziproken Raum, 3D-Fernordnung muss vorhanden sein Röntgen-Photonen gebeugte Röntgenstrahlung Beugung
MEED Monolagen-Wachstum in Abhängigkeit von der Zeit, Fernordnung bei voller Monolage muss vorhanden sein Elektronen gebeugte Elektronen Beugung
Reflection high energy electron diffraction (RHEED) in-situ-Strukturanalyse während Deposition, Fernordnung muss vorhanden sein Elektronen Elektronen Beugung mit kleinem Glanzwinkel

Kinetische Methoden

Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
Temperatur-programmierte Desorption (TPD) Ordnung der Desorptions-Kinetik, Anzahl Teilchen pro Monolage Wärme Desorbierte Oberflächen-Teilchen Desorption bei Temperaturerhöhung

Sorptive Methoden

Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen/Welle detektierte Größe/Teilchen/Welle ausgenutzter Effekt
BET-Messung Größe von Oberflächen Stickstoff Adsorption Adsorption / Desorption bei Temperaturerhöhung
Chemisorption aktive Zentren Wasserstoff, Sauerstoff, Kohlenstoffmonoxid Chemisorption, Adsorption Chemisorption, Desorption

Kombinationen

Bestimmte Strahlungsarten können mehrere Prozesse anregen, die für die jeweilige Methode Vor- und Nachteile bringen kann. Beispielsweise können bei Ionisation durch Röntgenstrahlung gleichzeitig Auger-Elektronen und Photoelektronen entstehen, die sich möglicherweise im Spektrum überlagern und so die Auswertung erschweren. Andererseits werden bei der TEM durch die zusätzliche Emission von Auger- und Photoelektronen, rückgestreute Elektronen, emittierte Partikel und EELS zusätzliche Informationen über die Probe in einer Apparatur gewonnen.

Die „Big Four“

Als die „Big Four“ (dt. »die großen Vier«) werden die Messmethoden XPS, AES, SIMS und ISS bezeichnet.

Nobelpreise für Entwicklungen in der Oberflächenchemie und Oberflächenphysik

Jahr / Fachgebiet Person Nationalität Begründung für die Preisvergabe
1932
Chemie
Irving Langmuir Vereinigte Staaten 48 Vereinigte Staaten „für seine Entdeckungen und Forschungen im Bereich der Oberflächenchemie“
1937
Physik
Clinton Davisson und
George Paget Thomson
Vereinigte Staaten 48 Vereinigte Staaten
Vereinigtes Konigreich Vereinigtes Königreich
„für ihre experimentelle Entdeckung der Beugung von Elektronen durch Kristalle“
1981
Physik
Kai Manne Siegbahn Schweden Schweden „für seinen Beitrag zur Entwicklung der hochauflösenden Elektronenspektroskopie“
1986
Physik
Gerd Binnig und
Heinrich Rohrer
Deutschland Bundesrepublik BR Deutschland
Schweiz Schweiz
„für ihre Konstruktion des Rastertunnelmikroskops“
2007
Chemie
Gerhard Ertl Deutschland Deutschland „für seine Studien von chemischen Verfahren auf festen Oberflächen“
2007
Physik
Albert Fert und
Peter Grünberg
Frankreich Frankreich
Deutschland Deutschland
„für die Entdeckung des Riesenmagnetwiderstands (GMR)“

Verwandte Themengebiete

  • Oberflächenphysik
  • Theoretische Chemie
  • Nanoelektronik
  • Lithographie

Siehe auch

  • Aktives Zentrum
  • Dispersion
  • Dosis (Oberflächenchemie)
  • Epitaxie
  • Fraktale Strukturen, Selbstähnlichkeit
  • Langmuir (Einheit)
  • Haftkoeffizient
  • Langmuir-Hinshelwood-Mechanismus, Eley-Rideal-Mechanismus, Mars-van-Krevelen-Mechanismus
  • ,
  • Schichtwachstum (Frank-van-der-Merve-Wachstum, Stranski-Krastanov-Wachstum und Volmer-Weber-Wachstum)
  • Kristallwachstum, Kristallisationskeim
  • Selfassembling Monolayers (SAM)
  • Top-down und Bottom-up

Literatur

Einzelnachweise

  1. Thomas Waldmann, Daniela Künzel, Harry E. Hoster, Axel Groß, R. Jürgen Behm: Oxidation of an Organic Adlayer: A Bird’s Eye View. In: Journal of the American Chemical Society. Band 134, Nr. 21, 30. Mai 2012, S. 8817–8822, doi:10.1021/ja302593v. 
  2. Oberflächenphysik des Festkörpers (Seite 101)

Bücher

  • G. Ertl, J. Küppers: Low Energy Electrons and Surface Chemistry. 2. Auflage. Verlag Chemie, Weinheim 1985, ISBN 3-527-26056-0. 
  • G. Ertl: Reactions at Solid Surfaces. 1. Auflage. Wiley, New Jersey 2009, ISBN 978-0-470-26101-9. 
  • Gábor A. Somorjai: Introduction to Surface Chemistry and Catalysis. Wiley, New York 1994, ISBN 0-471-03192-5 (englisch). 

Artikel

  • Gerhard Ertl: Reaktionen an Oberflächen: vom Atomaren zum Komplexen (Nobel-Vortrag). In: Angewandte Chemie. Band 120, Nr. 19, 2008, S. 3578–3590, doi:10.1002/ange.200800480. 
  • K. Köhler, C.W. Schläpfer: Koordinationschemie an Oxidoberflächen. In: Chemie in unserer Zeit. 27, Nr. 5, ISSN 0009-2851, 1993, S. 248–255.

Zeitschriften

  • Surface Science, Elsevier, ISSN 0039-6028
  • Surface Science Letters, Elsevier, ISSN 0167-2584
  • Surface Science Reports, Elsevier, ISSN 0167-5729
  • Surface Science Spectra, Elsevier, ISSN 1055-5269
  • Applied Surface Science, Elsevier, ISSN 0169-4332
  • Progress in Surface Science, Elsevier, ISSN 0079-6816
  • Applications of Surface Science, Elsevier, ISSN 0378-5963
  • ChemPhysChem 11, Special Issue on Surface Phenomena, 2010

Weblinks

  • Einführung in die Oberflächenchemie (englisch) (Queen Mary University of London)
  • Videodossier des Schweizer Fernsehens zum Thema Nanotechnologie (Memento vom 10. September 2010 im Internet Archive)
  • Oberflächenchemie in Reinform. tagesschau.de, archiviert vom Original am 12. Februar 2013; abgerufen am 11. April 2015. 
  • Richard Feynman: There’s Plenty of Room at the Bottom Vortrag am Caltech, 1959.
Teilbereiche der Chemie

Allgemeine Chemie · Anorganische Chemie · Biochemie · Organische Chemie · Physikalische Chemie · Technische Chemie · Theoretische Chemie


Agrochemie · Analytische Chemie · Atmosphärenchemie · Bauchemie · Bioanorganische Chemie · Biogeochemie · Bioorganische Chemie · Biophysikalische Chemie · Chemoinformatik · Chemometrik · Elektrochemie · Femtochemie · Festkörperchemie · Geochemie · Kernchemie · Klinische Chemie · Kohlechemie · Kolloidchemie · Kombinatorische Chemie · Kosmochemie · Lebensmittelchemie · Magnetochemie · Medizinische Chemie · Meereschemie · Metallorganische Chemie · Naturstoffchemie · Oberflächenchemie · Oleochemie · Petrochemie · Pharmazeutische Chemie · Photochemie · Physikalische Organische Chemie · Polymerchemie · Quantenchemie · Radiochemie · Supramolekulare Chemie · Stereochemie · Strahlenchemie · Strukturchemie · Textilchemie · Thermochemie · Umweltchemie

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Autor: www.NiNa.Az

Veröffentlichungsdatum: 30 Jun 2025 / 19:37

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Oberflachenchemie englisch surface chemistry surface science ist ein Teilgebiet der Physikalischen Chemie bei dem die chemischen und strukturellen Vorgange untersucht werden die sich an Grenzflachen meist fest gasformig abspielen Dabei werden oberflachensensitive analytische Methoden angewendet fur die in den letzten Jahrzehnten mehrere Nobelpreise vergeben wurden Da die untersuchten Strukturen im Nanometerbereich liegen zahlt man die Oberflachenchemie zu den Nanowissenschaften Siehe auch OberflachenphysikGrundlagenAls Oberflache engl surface ist dabei der Bereich eines Festkorpers definiert in dem sich die physikalischen und chemischen Eigenschaften z B Struktur elektronische Eigenschaften vom Rest engl bulk unterscheiden wobei die Abweichung von den Volumeneigenschaften f x displaystyle f x i a exponentiell mit der Entfernung von der Oberflache x displaystyle x abklingt proportional zu f x exp x displaystyle f x exp x Das Idealbild einer Oberflache ist analog zum idealen Festkorper eine streng periodisch in zwei Raumrichtungen unendliche ausgedehnte Anordnung von Atomen oder Molekulen Bravaisgitter Eine periodische Anordnung von Atomen oder Molekulen auf einer Oberflache kann analog zum Festkorper in zwei Dimensionen mit einem Bravais Gitter beschrieben werden In zwei Dimensionen gibt es funf Bravais Gitter die quadratische die rechteckige die rechteckig innenzentrierte die rautenformige und die hexagonale Struktur wobei die hexagonalen oder rechteckig innenzentrierte Strukturen als Sonderfalle der rautenformigen Struktur mit bestimmten Winkeln angesehen werden konnen Einheitszelle Rastertunnelmikroskop Eine Einheitszelle spiegelt die Symmetrie des Bravais Gitter wider es besitzt dieselben Symmetrieelemente Auf Grund der Periodizitat des Gitters konnen die Einheitszellen durch einen Translationsvektor R displaystyle vec R aufeinander abgebildet werden Die Einheitszellen selbst werden durch linear unabhangige Einheitsvektoren a 1 displaystyle vec a 1 und a 2 displaystyle vec a 2 aufgespannt Dabei gilt R a 1 a 2 displaystyle vec R vec a 1 vec a 2 Man kann das Gitter auch in einen anderen Raum mit anderen Basisvektoren a 1 displaystyle vec a 1 und a 2 displaystyle vec a 2 transformieren Arbeitet man z B mit Beugungsmethoden misst man die Einheitszelle im reziproken Raum auch k Raum genannt Die Vektoren der Einheitszelle im Ortsraum konnen u U mittels Rastertunnelmikroskopie ermittelt werden Die gemittelte Grosse der Einheitszelle im reziproken Raum erhalt man beispielsweise mit der Beugung langsamer Elektronen LEED an der Oberflache Eine spezielle Art der Einheitszelle ist die Wigner Seitz Zelle Ihr entspricht die Brillouin Zone 1 Ordnung im k Raum LEED Beugungsmuster im k RaumPunkte und Geraden im Gitter Ein Punkt P x y z displaystyle P x y z im Gitter wird durch einen Vektor P x y z displaystyle vec P x y z vom Ursprung zum Punkt beschrieben Eine Gerade wird mit einem Vektor beschrieben der parallel zur Gittergeraden liegt Gitterebenen Wenn ein Einkristall bricht geschieht das haufig entlang der Gitterebene Dadurch entstehen Oberflachen die sich je nach 3 dimensionaler Kristallstruktur und Schnittrichtung in ihrer 2 dimensionalen Oberflachenstruktur unterscheiden Die Schnittebenen konnen durch die Schnittpunkten a1 a2 a3 displaystyle a 1 a 2 a 3 der Ebene mit den Achsen des Koordinatensystems beschrieben werden Die gebrauchlichere Schreibweise ist allerdings die Angabe der Miller Indizes h k l displaystyle h k l die das ganzzahlige Vielfache der reziproken Achsenabschnitte sind z B 111 110 100 Uberstrukturen Uberstrukturen sind zusatzliche grossere Strukturen die sich durch Umordnung oder Adsorption an der Oberflache bilden Sie konnen mit Vektoren a2 displaystyle a 2 und b2 displaystyle b 2 als Vielfache der Basis Vektoren a1 displaystyle a 1 und b1 displaystyle b 1 durch die woodsche Nomenklatur oder durch Matrixdarstellung beschrieben werden OberflachenpraparationBevor eine Oberflache im mikroskopischen Massstab reproduzierbar analysiert werden kann muss sie von Verunreinigungen befreit werden Um sie vor weiterer Kontamination zu schutzen wird sie im Ultrahochvakuum UHV p lt 10 10hPa displaystyle p lt 10 10 mathrm hPa gehandhabt Dadurch wird die Flachenstossrate ni displaystyle n i von auftreffenden Molekulen aus der Gasphase verringert Diese ist fur ein Gasteilchen des Typs i displaystyle i ni 2 6 10221mbarpMi T displaystyle n i approx 2 6 cdot 10 22 frac 1 mathrm mbar frac p sqrt M i cdot T In einer Studie mit einer auf Ag 111 adsorbierten organischen Molekulschicht konnte eine Reaktion mit Sauerstoffgas mittels Rastertunnelmikroskopie direkt im Ortsraum sichtbar gemacht werden Mogliche Ursachen fur Oberflachenkontamination sind z B Adsorption von Luftmolekulen Staub Wanderung von Teilchen aus dem Probeninneren an die OberflacheOberflachendefekteTypische nanoskalige Defekte an Einkristalloberflachen z B die Ag 111 Oberflache sind Stufen Kinken sowie aus Terrassen herausgeloste Atome Diese konnen mittels Rastertunnelmikroskopie im atomaren Massstab sichtbar gemacht werden und sind im Allgemeinen reaktiver als atomar glatte Terrassen Methoden zur Oberflachenreinigung Werkstucke tragen nach der Bearbeitung z B Schleifen Drehen im Allgemeinen Ruckstande wie Ole Staub Abrieb oder Schleifmittel Diese Ruckstande wirken sich meistens negativ auf die Bearbeitungsschritte aus und mussen daher entfernt werden Typische Verfahren sind Oxidation oder Reduktion der Oberflache Uberfuhren der Verunreinigungen in fluchtige Verbindungen Oxidation kann zur chemischen Umwandlung von Adsorbaten fuhren die anschliessend leichter desorbiert werden Beispielsweise kann stark an eine Oberflache gebundenes CO zu CO2 oxidiert werden das auf Grund seiner chemischen Struktur nur noch schwach gebunden ist Sputtern mit Argonionen Beim Sputtern wird die Probe mit Ionen beschossen die in einem elektrischen Feld beschleunigt werden Allerdings bilden sich auf dem Substrat mehr oder weniger grosse Krater die z B durch Heizen der Probe geglattet werden konnen Tempern Heizen der Probe Beim Heizen der Probe auf eine bestimmte Temperatur ca 1000 K kann sich das thermodynamische Gleichgewicht einstellen dabei wird die Oberflache minimiert was einer Absenkung der Oberflachenenergie entspricht Dabei konnen sich von der Temperatur abhangige Rekonstruktionen oder Strukturen bilden Diese konnen in Domanen unterschiedlicher Orientierung vorliegen Beim Tempern kann es ausserdem zu Desorption von Adsorbaten kommen Techniken zum Aufbringen von weiteren Schichten Auf eine Oberflache konnen weitere Schichten von Atomen oder Molekulen aufgebracht werden um die Eigenschaften der Grenzflache zu modifizieren Dadurch lassen sich z B Halbleiterbauelemente in dreidimensionaler Form in einem integrierten Schaltkreis IC unterbringen weil sie durch die Schichten getrennt werden Ein in der Grundlagenforschung wichtiges Hilfsmittel ist die Chemisorption von Sondenmolekulen deren Schwingungseigenschaften z B Informationen uber die Oberflache geben Das Aufbringen der Schichten geschieht i a mit einer der folgenden Methoden der Dunnschichttechnologie Chemische Gasphasenabscheidung CVD Plasmaunterstutzte chemische Gasphasenabscheidung PECVD Physikalische Gasphasenabscheidung PVD Molekularstrahlepitaxie MBE galvanotechnische Abscheidung Oxidation der Oberflache mit Sauerstoff Sol Gel VerfahrenBeispiele fur FragestellungenBeispiele von Fragestellungen in der Oberflachenchemie sind die elementaren Zusammensetzungen von Oberflachen Konzentration von Elementen im Oberflachenbereich die Verteilung von Elementen im Tiefenprofil der Oberflache sowie die chemische Bindung von Adsorbaten Auch die Erforschung der Adsorptionskinetik der und der Desorptionskinetik sowie der elektronischen Struktur an der Grenzflache und der Schwingungseigenschaften sind Aufgaben der Oberflachenchemie Des Weiteren beschaftigt sich die Oberflachenchemie mit Reaktionsmechanismen von heterogen katalysierten Reaktionen erstellt Modelle fur katalytische Reaktionen fur die Entwicklung von industriellen Katalysatoren und untersucht die Diffusion von Adsorbaten auf Oberflachen Oberflachendynamik sowie den Oxidationszustand von Oberflachenatomen Oberflachenkoordinationschemieouter sphere Komplex des Anions Cr CN 5NO 3 an einer Metalloxid Hydroxid Oberflache Die Koordinationschemie an Metalloxidoberflachen hat viele Parallelen zur Komplexchemie in Losungen Hierbei dienen Oxidionen und insbesondere Hydroxidgruppen die durch dissoziative Adsorption von Wassermolekulen an der Metalloxidoberflache entstehen als Liganden fur Metallionen oder Metallionen Komplexen aus einer angrenzenden Phase Hierbei konnen Metallkomplexe durch schwache Wechselwirkungen gebunden werden outer sphere Komplexe oder die Bindung erfolgt uber Austauschreaktionen von Liganden inner sphere Komplexe Beispiel fur eine inner sphere Komplexbildung Metall OH Fe H2O 62 Metall OFe H2O 5 H3O displaystyle mathrm Metall OH Fe H 2 O 6 2 longrightarrow Metall OFe H 2 O 5 H 3 O Die Herstellung von Oberflachenkomplexen ist fur heterogene Katalysatoren von grosser Bedeutung An der Oberflache laufen insbesondere auch Saure Base Reaktionen ab Die Hydroxidgruppen konnen entweder als Bronsted Saure oder Bronsted Base reagieren Je nach Metall liegt dabei eine unterschiedliche Aciditat der Bronsted Saure vor Solche Oberflachen spielen eine wichtige Rolle als Katalysator fur saurekatalysierte Reaktionen in nichtwassrigen Losungsmitteln und in der Gasphase Ebenso spielen in der Katalyse Zentren an Metalloxidoberflachen eine Rolle die als Lewis Sauren reagieren konnen Hierbei nimmt vor allem bei hoheren Temperaturen die Anzahl von Metallkationen und damit die Lewis Aciditat zu Oberflachensensitive MethodenRasterkraftmikroskopische Abbildung der Datenschicht einer Compact Disc Oberflachenanalytische Methoden werden in der Industrie und in der Grundlagenforschung eingesetzt Heterogene Katalyse z B Haber Bosch Verfahren zur Herstellung von Ammoniak Halbleitertechnologie Brennstoffzellenforschung Ablaufe an Elektroden bei elektrochemischen Reaktionen Nanoelektronik d h Herstellung von elektronischen Bauteilen auf Nanometerskala Informationsspeicher mit hoher Speicherdichte Klebstoffe Bestandige Beschichtungen von Oberflachen z B Korrosionsschutz Medizintechnische Anwendungen Materialforschung z B atomare Zusammensetzung von Oberflachen Legierungen Bestimmte biologische Fragestellungen Um die Vorgange an Grenzflachen untersuchen zu konnen mussen Methoden verwendet werden die nur Prozesse in dem Bereich einer Probe sehen der sich in seinen Eigenschaften vom restlichen Festkorper unterscheidet Dazu werden die Wechselwirkungen von folgenden Wellen Teilchen mit Materie genutzt Strahlung Teilchen mittlere freie Weglange im Festkorper Gas BeispieleElektronen klein Coulomb Wechselwirkung abhangig von kinetischer Energie siehe Universelle KurvePhotonen gross keine Coulomb Wechselwirkung UV Strahlung Infrarotstrahlung Rontgenstrahlungneutrale thermische Atome und Molekule keine Umkehrpunkt vor Oberflache Helium Atome Wasserstoff MolekuleIonen klein Coulomb Wechselwirkung magnetische Felder grossWarme gross Die mittleren freien Weglangen von geladenen Teilchen sind auf Grund von Coulomb Wechselwirkungen i a viel kleiner als die von neutralen Ein weiterer starker Einfluss ist die kinetische Energie der Teilchen in bestimmten Energiebereichen konnen Prozesse angeregt werden was die mittlere freie Weglange verringert Entscheidend fur die Oberflachensensitivitat einer Methode ist dass entweder das mit der Probe wechselwirkende oder das detektierte Teilchen oder Welle eine geringe mittlere freie Weglange in der Materie besitzt Deshalb ist auch fur viele Methoden ein Ultrahochvakuum notig Die gewahlte Methode hangt dabei von der Fragestellung ab Die folgende Ubersicht soll nur einen Uberblick geben Fur mehrere Methoden existieren auch verschiedene ortsauflosende Techniken Fur weitere Beschreibung siehe deren Artikel Jede der Methoden hat Vor und Nachteile die beim Experiment berucksichtigt werden mussen Mikroskopie Das erste Rastertunnelmikroskop von Rohrer und BinnigDie Oberflache von Natriumchlorid mit dem Kraftmikroskop im Nicht Kontakt Modus abgebildet wobei die einzelnen Atome als Erhebungen bzw Vertiefungen zu erkennen sind STM Aufnahme einer Graphitoberflache in atomarer Auflosung STM Messung der Rekonstruktion der 100 Flache eines Au EinkristallsRastersondenmikroskopie Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektRastertunnelmikroskop STM Elektronische Zustandsdichte LDOS und Topographie an der Oberflache im Ortsraum Uberstrukturen Elektronen Tunnelstrom z Position der Spitze TunneleffektRasterkraftmikroskop AFM Topographie an der Oberflache im Ortsraum Schwingende Spitze Cantilever Ablenkung eines Laserstrahls Frequenz Phasen und Amplitudenanderung Kraft zwischen AFM Cantilever und Oberflache Pauli Repulsion Van der Waals Wechselwirkung Nahfeldmikroskopie SNOM Chemisches Kraftmikroskop CFM Magnetkraftmikroskop MFM Fotolack im ElektronenmikroskopElektronenmikroskopie Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektTransmissions Elektronen Mikroskopie TEM Oberflachenstruktur im Ortsraum Gleitebenen von Kristalliten auf der Oberflache Elektronen Elektronen Transmission von Elektronen durch eine dunne ProbeRaster Elektronen Mikroskopie SEM Oberflachenstruktur im Ortsraum Gleitebenen von Kristalliten auf der Oberflache Elektronen Elektronen Abrastern der Probe mit ElektronenstrahlRaster Transmissions Elektronen Mikroskopie STEM Oberflachenstruktur im Ortsraum Gleitebenen von Kristalliten auf der Oberflache Elektronen Elektronen Kombination aus TEM und SEMPhotoemissions Elektronenmikroskopie PEEM Magnetische Domanenstruktur im Ortsraum Zirkular polarisierte Rontgenphotonen Photoelektronen Photoelektrischer Effekt vergrosserte Darstellung der emittierten Photoelektronen auf einem LeuchtschirmFIM Bild einer Wolframspitze in 110 Orientierung bei 11 kV Die Ringstruktur resultiert aus der Anordnung der Atome in einem krz Gitter Einzelne helle Punkte konnen als einzelne Atome interpretiert werden Feldinduzierte Mikroskopie Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektFeldemissionsmikroskopie FEM Abbildung der Struktur von Spitzen keine atomare Auflosung elektrisches Feld ionisiert Spitzenatome emittierte Elektronen aus der Spitze auf Fluoreszenzschirm Ionisation TunneleffektFeldionenmikroskopie FIM Abbildung der Struktur von Spitzen atomare Auflosung elektrisches Feld Bildgas mit Fluoreszenzschirm Ionisation des Bildgases Tunneleffekt Feldverdampfung Abbildung der Struktur von Spitzen elektrisches Feld Adatome Spitzenatome Desorption von Adatomen der Spitze Verdampfung von SpitzenmaterialZusammensetzung von Spitzen elektrisches Feld Molare Masse von Spitzenatomen durch Time of flight Massenspektrometer TOF Desorption von Atomen der Spitze Unterschiedliche Flugzeit bei unterschiedlichen Massen im TOFSpektroskopie Beispiel fur ein XPS SpektrumTypisches XPS System mit Halbkugelanalysator Rontgenrohren und diversen Praparationsmethoden Bei der Spektroskopie handelt es sich allgemein um ein Verfahren bei dem ein Spektrum erzeugt wird d h eine Intensitat wird gegen eine der Energie aquivalenten Grosse aufgetragen z B Frequenz Bei der Elektronenspektroskopie ist die Energie von Elektronen diejenige Grosse die gegen die Intensitat aufgetragen wird Es gibt folgende Methoden Elektronenspektroskopie Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektRontgen Photoelektronen Spektroskopie XPS Oxidationszustand und Konzentration von Elementen im Oberflachenbereich Rontgen Photonen Photo Elektronen Photoelektrischer EffektAuger Elektronen Spektroskopie AES Oxidationszustand und Konzentration von Elementen im Oberflachenbereich Rontgen Photonen oder Elektronen Auger Elektronen Auger EffektUltraviolett Photoelektronen Spektroskopie UPS Elektronische Struktur Photonen im UV Bereich Photo Elektronen Photoelektrischer EffektMetastabilen Einschlag Elektronenspektroskopie MIES Elektronische Struktur Metastabile Heliumatome Auger Elektronen Abregung der metastabilen Atome an der Oberflache Auger EffektRotations Schwingungs Spektrum von gasformigem Chlorwasserstoff bei Raumtemperatur Schwingungs Spektroskopie Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektInfrarotspektroskopie IR Spektrum Schwingungsmoden von Adsorbaten oft Kohlenmonoxid als Sonde Infrarot Photonen Infrarot Photonen Schwingungsanregung von IR aktiven BandenRamanspektroskopie Spektrum Schwingungsmoden von Adsorbaten VIS NIR Laser Rayleigh Raman Streuung VIS NIR Schwingungsanregung von raman aktiven BandenElektronenenergieverlustspektroskopie EELS Spektrum Elektronen Elektronen Anregung von Prozessen im Festkorper Phononenanregung Plasmonenanregung IonisationIonen Spektroskopie Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektIonen Streu Spektroskopie ISS LEIS Molare Masse der Oberflachenatome auf der aussersten Lage qualitativ niederenergetische Ionen oft positive Edelgas oder Alkalimetallionen gestreute Ionen mit einem Massenspektrometer Elastische Streuung von Ionen an der Oberflache Energie und ImpulserhaltungSekundar Ionen Massenspektrometrie SIMS Molare Masse der Atome im Tiefenprofil der Oberflache quantitativ Ionen oft positive Edelgas oder Metallionen Cluster und Fragmente der Oberflache gestreute Ionen mit einem Massenspektrometer Sputtern der OberflacheRutherford Backscattering Spectrometry RBS Zusammensetzung der Oberflache hochenergetische Helium IonenNukleare Reaktions Analyse NRA Zusammensetzung der Oberflache hochenergetische Ionen oder Neutronen Zerfallsprodukte von Kernreaktionen KernreaktionenSekundar Neutralteilchen Massenspektrometrie SNMS Rontgenabsorptionsspektrum im Bereich einer Absorptionskante schematisch Die Kante ist durch einen Pfeil markiert und der bei EXAFS untersuchte Energiebereich hellblau hinterlegt Rontgen Absorptions Spektroskopie XAS Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter Effekt Surface Extended X Ray absorption Fine Structure S EXAFS XANES Informationen uber Nahordnung Bindungslangen Koordinationszahl durchstimmbere Rontgen Photonen Synchrotronstrahlung Rontgen Photonen Interferenz von ursprunglichen Photoelektronen und an Nachbaratomen gestreuten Photoelektronen fuhren zu anderer Wahrscheinlichkeit fur Photoelektrischen EffektX Ray Absorption near edge Structure XANES NEXAFS Informationen uber Nahordnung Elektronische Struktur Oxidationszustand durchstimmbere Rontgen Photonen Synchrotronstrahlung Rontgen Photonen wie EXAFS aber genauere Auflosung der in AbsortionskantennaheMossbauerspektroskopie Zusammensetzung Strukturinformationen Oxidationszustande Partikelgrosse Gammastrahlung meist aus 57Co displaystyle 57 mathrm Co Gammastrahlung Mossbauereffekt DopplereffektWeitere Spektroskopiearten Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektRaster Tunnel Spektroskopie STS Zustandsdichte der Oberflachenregion im Ortsraum Elektronen Variation von Ort und Tunnelspannung Tunnelstrom TunneleffektBeugung Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektBeugung niederenergetischer Elektronen LEED Oberflachenstruktur im reziproken Raum Uberstrukturen 2D Fernordnung muss vorhanden sein niederenergetische Elektronen gebeugte Elektronen BeugungRontgenbeugung XRD Gitterstruktur des gesamten Festkorpers im reziproken Raum 3D Fernordnung muss vorhanden sein Rontgen Photonen gebeugte Rontgenstrahlung BeugungMEED Monolagen Wachstum in Abhangigkeit von der Zeit Fernordnung bei voller Monolage muss vorhanden sein Elektronen gebeugte Elektronen BeugungReflection high energy electron diffraction RHEED in situ Strukturanalyse wahrend Deposition Fernordnung muss vorhanden sein Elektronen Elektronen Beugung mit kleinem GlanzwinkelKinetische Methoden Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektTemperatur programmierte Desorption TPD Ordnung der Desorptions Kinetik Anzahl Teilchen pro Monolage Warme Desorbierte Oberflachen Teilchen Desorption bei TemperaturerhohungSorptive Methoden Methode Erhaltene Informationen eingesetztes Teilchen Welle detektierte Grosse Teilchen Welle ausgenutzter EffektBET Messung Grosse von Oberflachen Stickstoff Adsorption Adsorption Desorption bei TemperaturerhohungChemisorption aktive Zentren Wasserstoff Sauerstoff Kohlenstoffmonoxid Chemisorption Adsorption Chemisorption DesorptionKombinationen Bestimmte Strahlungsarten konnen mehrere Prozesse anregen die fur die jeweilige Methode Vor und Nachteile bringen kann Beispielsweise konnen bei Ionisation durch Rontgenstrahlung gleichzeitig Auger Elektronen und Photoelektronen entstehen die sich moglicherweise im Spektrum uberlagern und so die Auswertung erschweren Andererseits werden bei der TEM durch die zusatzliche Emission von Auger und Photoelektronen ruckgestreute Elektronen emittierte Partikel und EELS zusatzliche Informationen uber die Probe in einer Apparatur gewonnen Die Big Four Als die Big Four dt die grossen Vier werden die Messmethoden XPS AES SIMS und ISS bezeichnet Nobelpreise fur Entwicklungen in der Oberflachenchemie und OberflachenphysikDer Nobelpreistrager Gerhard Ertl gilt als Mitbegrunder der modernen OberflachenchemieJahr Fachgebiet Person Nationalitat Begrundung fur die Preisvergabe1932 Chemie Irving Langmuir Vereinigte Staaten 48 Vereinigte Staaten fur seine Entdeckungen und Forschungen im Bereich der Oberflachenchemie 1937 Physik Clinton Davisson und George Paget Thomson Vereinigte Staaten 48 Vereinigte Staaten Vereinigtes Konigreich Vereinigtes Konigreich fur ihre experimentelle Entdeckung der Beugung von Elektronen durch Kristalle 1981 Physik Kai Manne Siegbahn Schweden Schweden fur seinen Beitrag zur Entwicklung der hochauflosenden Elektronenspektroskopie 1986 Physik Gerd Binnig und Heinrich Rohrer Deutschland Bundesrepublik BR Deutschland Schweiz Schweiz fur ihre Konstruktion des Rastertunnelmikroskops 2007 Chemie Gerhard Ertl Deutschland Deutschland fur seine Studien von chemischen Verfahren auf festen Oberflachen 2007 Physik Albert Fert und Peter Grunberg Frankreich Frankreich Deutschland Deutschland fur die Entdeckung des Riesenmagnetwiderstands GMR Verwandte ThemengebieteOberflachenphysik Theoretische Chemie Nanoelektronik LithographieSiehe auchAktives Zentrum Dispersion Dosis Oberflachenchemie Epitaxie Fraktale Strukturen Selbstahnlichkeit Langmuir Einheit Haftkoeffizient Langmuir Hinshelwood Mechanismus Eley Rideal Mechanismus Mars van Krevelen Mechanismus Schichtwachstum Frank van der Merve Wachstum Stranski Krastanov Wachstum und Volmer Weber Wachstum Kristallwachstum Kristallisationskeim Selfassembling Monolayers SAM Top down und Bottom upLiteraturEinzelnachweise Thomas Waldmann Daniela Kunzel Harry E Hoster Axel Gross R Jurgen Behm Oxidation of an Organic Adlayer A Bird s Eye View In Journal of the American Chemical Society Band 134 Nr 21 30 Mai 2012 S 8817 8822 doi 10 1021 ja302593v Oberflachenphysik des Festkorpers Seite 101 Bucher G Ertl J Kuppers Low Energy Electrons and Surface Chemistry 2 Auflage Verlag Chemie Weinheim 1985 ISBN 3 527 26056 0 G Ertl Reactions at Solid Surfaces 1 Auflage Wiley New Jersey 2009 ISBN 978 0 470 26101 9 Gabor A Somorjai Introduction to Surface Chemistry and Catalysis Wiley New York 1994 ISBN 0 471 03192 5 englisch Artikel Gerhard Ertl Reaktionen an Oberflachen vom Atomaren zum Komplexen Nobel Vortrag In Angewandte Chemie Band 120 Nr 19 2008 S 3578 3590 doi 10 1002 ange 200800480 K Kohler C W Schlapfer Koordinationschemie an Oxidoberflachen In Chemie in unserer Zeit 27 Nr 5 ISSN 0009 2851 1993 S 248 255 Zeitschriften Surface Science Elsevier ISSN 0039 6028 Surface Science Letters Elsevier ISSN 0167 2584 Surface Science Reports Elsevier ISSN 0167 5729 Surface Science Spectra Elsevier ISSN 1055 5269 Applied Surface Science Elsevier ISSN 0169 4332 Progress in Surface Science Elsevier ISSN 0079 6816 Applications of Surface Science Elsevier ISSN 0378 5963 ChemPhysChem 11 Special Issue on Surface Phenomena 2010WeblinksEinfuhrung in die Oberflachenchemie englisch Queen Mary University of London Videodossier des Schweizer Fernsehens zum Thema Nanotechnologie Memento vom 10 September 2010 im Internet Archive Oberflachenchemie in Reinform tagesschau de archiviert vom Original am 12 Februar 2013 abgerufen am 11 April 2015 Richard Feynman There s Plenty of Room at the Bottom Vortrag am Caltech 1959 Teilbereiche der Chemie Allgemeine Chemie Anorganische Chemie Biochemie Organische Chemie Physikalische Chemie Technische Chemie Theoretische Chemie Agrochemie Analytische Chemie Atmospharenchemie Bauchemie Bioanorganische Chemie Biogeochemie Bioorganische Chemie Biophysikalische Chemie Chemoinformatik Chemometrik Elektrochemie Femtochemie Festkorperchemie Geochemie Kernchemie Klinische Chemie Kohlechemie Kolloidchemie Kombinatorische Chemie Kosmochemie Lebensmittelchemie Magnetochemie Medizinische Chemie Meereschemie Metallorganische Chemie Naturstoffchemie Oberflachenchemie Oleochemie Petrochemie Pharmazeutische Chemie Photochemie Physikalische Organische Chemie Polymerchemie Quantenchemie Radiochemie Supramolekulare Chemie Stereochemie Strahlenchemie Strukturchemie Textilchemie Thermochemie Umweltchemie Normdaten Sachbegriff GND 4126166 5 GND Explorer lobid OGND AKS

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