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Die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie Abkürzung WDS oder auch WDX dient der Analyse der charakteristischen Rön
Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie
Die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (Abkürzung: WDS oder auch WDX) dient der Analyse der charakteristischen Röntgenstrahlung, welche von einer Probe (z. B. aufgrund des Beschusses mit einem Elektronenstrahl) emittiert wird. Auf diese Weise sind alle Elemente mit einer Ordnungszahl von wenigstens 4 (Beryllium) detektierbar. Die relative Nachweisgrenze beträgt bei Elementen 0,01 Gewichtsprozent, was einer absoluten Nachweisgrenze von 10−14 bis 10−15 g entspricht. Das Verfahren gehört zur Gruppe der Röntgenspektroskopien, es ist eng verwandt mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS oder auch EDX).
Funktionsweise des Detektors
Bei der WDS wird die Röntgenstrahlung durch Beugung an natürlichen oder synthetischen Kristallen in die spektralen Bestandteile zerlegt. Dabei wird das Spektrometer immer auf eine Wellenlänge eingestellt und somit die charakteristische Röntgenstrahlung eines Elementes analysiert. Für ein komplettes Spektrum müssen nacheinander die verschiedenen Wellenlängenbereiche abgefahren werden.
Vergleich mit der energiedispersiven Röntgenspektroskopie
Gegenüber der energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS oder auch EDX), die häufiger an Elektronenmikroskopen zu finden sind, ist die Nachweisempfindlichkeit mit einem WDS eine Größenordnung besser. Gleichzeitig wird eine deutlich höhere spektrale Auflösung des Röntgenspektrums erreicht. Vorteil der Messung mit EDX ist dagegen die simultane Messung des gesamten Röntgenspektrums der analysierten Probenstelle und damit die gleichzeitige Analyse aller Elemente. Dieses bedeutet einen deutlichen Zeit- bzw. Geschwindigkeitsvorteil.
Siehe auch
- Elektronenstrahlmikroanalyse
- Rasterelektronenmikroskop
- Röntgenfluoreszenzanalyse
Literatur
- Jürgen Thomas, Thomas Gemming: Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Einführung für den Praktiker. Springer, Wien 2013, ISBN 978-3-7091-1440-7, Kapitel Wir nutzen die analytischen Möglichkeiten, doi:10.1007/978-3-7091-1440-7.
Autor: www.NiNa.Az
Veröffentlichungsdatum:
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Die wellenlangendispersive Rontgenspektroskopie Abkurzung WDS oder auch WDX dient der Analyse der charakteristischen Rontgenstrahlung welche von einer Probe z B aufgrund des Beschusses mit einem Elektronenstrahl emittiert wird Auf diese Weise sind alle Elemente mit einer Ordnungszahl von wenigstens 4 Beryllium detektierbar Die relative Nachweisgrenze betragt bei Elementen 0 01 Gewichtsprozent was einer absoluten Nachweisgrenze von 10 14 bis 10 15 g entspricht Das Verfahren gehort zur Gruppe der Rontgenspektroskopien es ist eng verwandt mit der energiedispersiven Rontgenspektroskopie EDS oder auch EDX Funktionsweise des DetektorsBei der WDS wird die Rontgenstrahlung durch Beugung an naturlichen oder synthetischen Kristallen in die spektralen Bestandteile zerlegt Dabei wird das Spektrometer immer auf eine Wellenlange eingestellt und somit die charakteristische Rontgenstrahlung eines Elementes analysiert Fur ein komplettes Spektrum mussen nacheinander die verschiedenen Wellenlangenbereiche abgefahren werden Vergleich mit der energiedispersiven RontgenspektroskopieGegenuber der energiedispersiven Rontgenspektroskopie EDS oder auch EDX die haufiger an Elektronenmikroskopen zu finden sind ist die Nachweisempfindlichkeit mit einem WDS eine Grossenordnung besser Gleichzeitig wird eine deutlich hohere spektrale Auflosung des Rontgenspektrums erreicht Vorteil der Messung mit EDX ist dagegen die simultane Messung des gesamten Rontgenspektrums der analysierten Probenstelle und damit die gleichzeitige Analyse aller Elemente Dieses bedeutet einen deutlichen Zeit bzw Geschwindigkeitsvorteil Siehe auchElektronenstrahlmikroanalyse Rasterelektronenmikroskop RontgenfluoreszenzanalyseLiteraturJurgen Thomas Thomas Gemming Analytische Transmissionselektronenmikroskopie Eine Einfuhrung fur den Praktiker Springer Wien 2013 ISBN 978 3 7091 1440 7 Kapitel Wir nutzen die analytischen Moglichkeiten doi 10 1007 978 3 7091 1440 7